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《IC芯片设计中的静态时序分析实践》内容简介
《IC芯片设计中的静态时序分析实践》深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法，涉及了包括互连线模型、时序计算和串扰等影在内的响纳米级电路设计的时序的重要问题，并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化(OCV)下进行时序检查的方法。详细介绍了层次化块(Block)、全芯片及特殊IO接口的时序验证，并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。
《IC芯片设计中的静态时序分析实践》书籍信息摘要
《IC芯片设计中的静态时序分析实践》内容简介与阅读建议，作者 [美]J.巴斯卡尔（J.Bhasker）/[美]拉凯什·查达，科技技术，2022年。获取前建议核对作者、出版社、年份、ISBN、版本和正版渠道。相关主题：芯片、计算机类。
- 作者：[美]J.巴斯卡尔（J.Bhasker）/[美]拉凯什·查达
- 分类：科技技术
- 出版年份：2022
- 出版社：机械工业出版社
- 页数：361 页
- 语言：中文
- 格式：暂无已核验合规下载格式
《IC芯片设计中的静态时序分析实践》适合哪些读者？
适合希望系统学习技术概念、实践方法、工具使用和行业知识的读者。
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版本
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目录
- 译者的话
- 原书前言
- 第1章引言
- 1.1纳米级设计
- 1.2什么是STA
- 1.3为什么要进行STA
- 1.4设计流程
- 1.4.1CMOS数字设计
展开全部（共 216 章节）
- 1.4.2FPGA设计
- 1.4.3异步设计
- 1.5不同阶段的STA
- 1.6STA的局限性
- 1.7功耗考虑
- 1.8可靠性考虑
- 1.9本书概要
- 第2章STA概念
- 2.1CMOS逻辑设计
- 2.1.1基本MOS结构
- 2.1.2CMOS逻辑门
- 2.1.3标准单元
- 2.2CMOS单元建模
- 2.3电平翻转波形
- 2.4传播延迟
- 2.5波形的转换率
- 2.6信号之间的偏移
- 2.7时序弧和单调性
- 2.8小和大时序路径
- 2.9时钟域
- 2.10工作条件
- 第3章标准单元库
- 3.1引脚电容
- 3.2时序建模
- 3.2.1线性时序模型
- 3.2.2非线性延迟模型
- 3.2.3阈值规范和转换率减免
- IC芯片设计中的静态时序分析实践目录3.3时序模型——组合逻辑单元
- 3.3.1延迟和转换率模型
- 3.3.2常用组合逻辑块
- 3.4时序模型——时序单元
- 3.4.1同步检查：建立时间和保持时间
- 3.4.2异步检查
- 3.4.3传播延迟
- 3.5状态相关的时序模型
- 3.6黑箱(Black Box)的接口时序模型
- 3.7先进时序建模
- 3.7.1接收引脚电容
- 3.7.2输出电流
- 3.7.3串扰噪声分析模型
- 3.7.4其他噪声模型
- 3.8功耗建模
- 3.8.1动态功耗
- 3.8.2漏电功耗
- 3.9单元库中的其他属性
- 3.9.1面积规范
- 3.9.2功能规范
- 3.9.3SDF条件
- 3.10特征化和工作条件
- 3.10.1用k系数来减免
- 3.10.2库单位
- 第4章互连寄生参数
- 4.1互连线电阻、电感和电容
- 4.2线负载模型
- 4.2.1互连树
- 4.2.2指定线负载模型
- 4.3提取的寄生参数的表示方法
- 4.3.1详细标准寄生参数格式
- 4.3.2精简标准寄生参数格式
- 4.3.3标准寄生参数交换格式
- 4.4耦合电容的表示方法
- 4.5层次化设计方法
- 4.6减少关键线的寄生参数
- 第5章延迟计算
- 5.1概述
- 5.1.1延迟计算的基础
- 5.1.2带有互连线的延迟计算
- 5.2使用有效电容的单元延迟
- 5.3互连线延迟
- 5.4转换率融合
- 5.5不同的转换率阈值
- 5.6不同的电压域
- 5.7路径延迟计算
- 5.7.1组合逻辑路径计算
- 5.7.2到触发器的路径
- 5.7.3多路径
- 5.8裕量计算
- 第6章串扰和噪声
- 6.1概述
- 6.2串扰毛刺分析
- 6.2.1基础
- 6.2.2毛刺的类型
- 6.2.3毛刺的阈值和传播
- 6.2.4多侵害者的噪声累积
- 6.2.5侵害者的时序相关性
- 6.2.6侵害者的功能相关性
- 6.3串扰延迟分析
- 6.3.1基础
- 6.3.2正向串扰和负向串扰
- 6.3.3多侵害者的累积
- 6.3.4侵害者和受害者的时序相关性
- 6.3.5侵害者和受害者的功能相关性
- 6.4考虑串扰延迟的时序分析
- 6.4.1建立时间分析
- 6.4.2保持时间分析
- 6.5计算复杂度
- 6.6避免噪声的技术
- 第7章配置STA环境
- 7.1什么是STA环境
- 7.2指定时钟
- 7.2.1时钟不确定性
- 7.2.2时钟延迟
- 7.3生成时钟
- 7.3.1时钟门控单元输出端上的主时钟实例
- 7.3.2使用invert选项生成时钟
- 7.3.3生成时钟的时钟延迟
- 7.3.4典型的时钟生成场景
- 7.4约束输入路径
- 7.5约束输出路径
- 7.6时序路径组
- 7.7外部属性建模
- 7.7.1驱动能力建模
- 7.7.2电容负载建模
- 7.8设计规则检查
- 7.9虚拟时钟
- 7.10完善时序分析
- 7.10.1指定无效信号
- 7.10.2中断单元内部的时序弧
- 7.11点对点约束
- 7.12路径分割
- 第8章时序验证
- 8.1建立时间检查
- 8.1.1触发器到触发器的路径
- 8.1.2输入到触发器的路径
- 8.1.3触发器到输出的路径
- 8.1.4输入到输出的路径
- 8.1.5频率直方图
- 8.2保持时间检查
- 8.2.1触发器到触发器的路径
- 8.2.2输入到触发器的路径
- 8.2.3触发器到输出的路径
- 8.2.4输入到输出的路径
- 8.3多周期路径
- 8.4伪路径
- 8.5半周期路径
- 8.6移除时间检查
- 8.7恢复时间检查
- 8.8跨时钟域的时序
- 8.8.1慢速时钟域到快速时钟域
- 8.8.2快速时钟域到慢速时钟域
- 8.9实例
- 8.9.1半周期——例1
- 8.9.2半周期——例2
- 8.9.3快速时钟域到慢速时钟域
- 8.9.4慢速时钟域到快速时钟域
- 8.10多倍时钟
- 8.10.1整数倍
- 8.10.2非整数倍
- 8.10.3相移
- 第9章接口分析
- 9.1IO接口
- 9.1.1输入接口
- 9.1.2输出接口
- 9.1.3时序窗口内的输出变化
- 9.2SRAM接口
- 9.3DDR SDRAM接口
- 9.3.1读周期
- 9.3.2写周期
- 9.4视频DAC接口
- 第10章鲁棒性验证
- 10.1片上变化(OCV)
- 10.1.1在差PVT情况下带有OCV分析
- 10.1.2保持时间检查的OCV
- 10.2时序借用
- 10.2.1没有时序借用的例子
- 10.2.2有时序借用的例子
- 10.2.3有时序违例的例子
- 10.3数据到数据检查
- 10.4非时序路径检查
- 10.5时钟门控检查
- 10.5.1高电平有效时钟门控
- 10.5.2低电平有效时钟门控
- 10.5.3用多路复用器进行时钟门控
- 10.5.4带时钟反相的时钟门控
- 10.6功耗管理
- 10.6.1时钟门控
- 10.6.2电源门控
- 10.6.3多种阈值单元
- 10.6.4阱偏置
- 10.7反标(Backannotation)
- 10.7.1SPEF
- 10.7.2SDF
- 10.8签核(Sign-Off)方法
- 10.8.1工作模式
- 10.8.2PVT工艺角
- 10.8.3多模式多工艺角分析
- 10.9统计静态时序分析
- 10.9.1工艺和互连偏差
- 10.9.2统计分析
- 10.10违例路径的时序
- 10.11验证时序约束
- 附录
- 附录A新思设计约束(SDC)
- A.1基础命令
- A.2对象访问命令
- A.3时序约束
- A.4环境命令
- A.5多电压命令
- 附录B标准延迟格式(SDF)
- B.1SDF是什么
- B.2格式
- B.2.1例子
- B.3反标过程
- B.3.1Verilog HDL
- B.3.2VHDL
- B.4映射例子
- B.4.1传播延迟
- B.4.2输入
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